超高速高低温气流冲击机
一、产品用途：本设备适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC光通讯（如 收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环 测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
二、技术参数
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产品型号 |
LCCJ-55 |
LCCJ-65 |
LCCJ-80 |
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温度范围 |
-55℃~180℃ |
-65°℃~200℃ |
-80℃~250℃ |
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温度速度 |
-40℃⇋100°℃约10s |
-55℃⇋125℃约10s |
-60℃⇋125℃约10s |
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温度精度 |
±0.5℃ |
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解析精度 |
±0.1℃ |
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出气流量 |
4~18SCFM(1.8 l/s~8.5l/s)) |
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测量模式 |
AIR MODE(气流感测)或DUT MODE(远端测量) |
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工作模式 |
高温-常温-低温/高温-低温/高温-常温/低温-常温/自定义编程 |
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运行模式 |
手动/程序/手动循环/自动循环 |
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外观尺寸与质量 |
W68H112D92cm,150kg |
w85H132D98cm,200kg |
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手臂延伸尺寸 |
140CM |
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最高与最低尺寸 |
720~1220mm |
920~1420mm |
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耐温玻璃罩尺寸 |
内径:140mm;高度:55mm |
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电源 |
单相,220V,50HZ,40A三相,380V,50HZ,30A |
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进气温度 |
+15℃~+25℃ |
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进气压力 |
90~110PSIG(6.2~7.6 BAR) |
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进气流量 |
0.7~1.0 m /min 3 |
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进气露点 |
≤10℃ |
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含油量 |
≤0.01 PPM |
服务热线
